Modélisation statistique

Voir Plus Voir Moins

Afficher le Résumé

Cette thèse est dédiée d'abord à l'étude de modèles qui traitent le cas où les durées de vie sont sujets à plusieurs causes de panne (modèles à risques concurrents) comme le modèle bi-Weibull et un modèle de l'extension exponentielle généralisée par la méthode alpha-power transformation. Ensuite on propose une nouvelle distribution généralisant celle de Chen qui peut décrire des données de différents domaines comme la fiabilité, la médecine et les assurances. Pour vérifier l'ajustement de chacune de ces distributions aux données réelles, on a développé de nouveaux critères de tests puissants, pratiques et efficaces.

Télécharger Document