Microanalyse d'échantillons de silicium par rétrodiffusion d'ions he d'énergie 2MeV et émission x induite par des protors et des particules Alpha
Type doc. :
Thèses / mémoires
Langue :
Français
Auteur(s) :
Année de soutenance:
1980
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les méthodes d'analyse par rétrodiffusion et par émission X induite, apparaissent comme complémentaire et constitue des outils puissants d'analyse des couches minces.
| N° Bulletin | Date / Année de parution | Titre N° Spécial | Sommaire |
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| Cote | Localisation | Type de Support | Type de Prêt | Statut | Date de Restitution Prévue | Réservation |
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| 530 BEN TH C1 | BIB-Centrale / Thèses | interne | disponible |
Benguerba, M. et al. (1980). Microanalyse d'échantillons de silicium par rétrodiffusion d'ions he d'énergie 2MeV et émission x induite par des protors et des particules Alpha (Doctorat) . Alger .