caractérisation par microscopie acoustique de silicium(100), (111) et de couches minces de SiC/Si (100), et d'un échantillon d'acier
Type doc. :
Thèses / mémoires
Langue :
Français
Auteur(s) :
Année de soutenance:
1992
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Les résultats de cette étude se situe à deux niveaux mesures des cartactéristiques mécaniques E, G.ces résultats sont donnés en fonction du traitement qu' a subit l'échantillon , la fatique et le temps d'utilisation de ce matériau , donc nous pouvons envisager une cartographie des propriétés mécaniques des matériau par une méthode non destructive .
| N° Bulletin | Date / Année de parution | Titre N° Spécial | Sommaire |
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| Cote | Localisation | Type de Support | Type de Prêt | Statut | Date de Restitution Prévue | Réservation |
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| 530 BOU TH C1 | BIB-Centrale / Thèses | interne | disponible |
Boumaiza, Y. et al. (1992). caractérisation par microscopie acoustique de silicium(100), (111) et de couches minces de SiC/Si (100), et d'un échantillon d'acier (Chimie) . Annaba.