Etude des possibilites analytiques offertes par la methode pixe (particle induced x-ray emission) application a l'analyse de cibles epaisses
Type doc. :
Thèses / mémoires
Langue :
Français
Auteur(s) :
Année de soutenance:
1984
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Depuis le premier article de Johanson et al /JOH 70/ annonçant la possibilité de détecter des éléments traces avec une 12 sensibilité de 10g par fluorescence X excitée par des protons accélérés, cette technique a connu un développement considérable. Connue actuellement sous le nom de PIXE (Particle Induced X-Ray Emission), plusieurs articles de revue plus ou moins détaillés lui ont été consacrés (/DEC 75/, /FOL 75/,/JOH 76/,/MIT 81/). Le champ d'application s'est étendu considérablement. Les raisons de ce développement sont multiples :
| N° Bulletin | Date / Année de parution | Titre N° Spécial | Sommaire |
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| Cote | Localisation | Type de Support | Type de Prêt | Statut | Date de Restitution Prévue | Réservation |
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| 530 MEF TH C1 | BIB-Centrale / Thèses | interne | disponible |
Meftah, A. et al. (1984). Etude des possibilites analytiques offertes par la methode pixe (particle induced x-ray emission) application a l'analyse de cibles epaisses (Magister) . Alger.