Microscopie électronique des lames minces cristallines
Type doc. :
Livre
Langue :
Français
Auteur(s) :
Editeur(s) :
Année d'édition :
1966
Thème :
Electronique
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Cet ouvrage de G. Saada présente les fondements théoriques et expérimentaux de la microscopie électronique appliquée à l’étude des lames minces cristallines. Il décrit les interactions entre les électrons et les matériaux, les mécanismes de formation des images et les phénomènes de diffraction utilisés pour analyser les structures cristallines. Une attention particulière est portée à la préparation des échantillons et à l’observation des défauts cristallins tels que les dislocations, joints de grains et défauts ponctuels. L’ouvrage constitue une référence pour la caractérisation microstructurale des matériaux métalliques, semi-conducteurs et céramiques.
| N° Bulletin | Date / Année de parution | Titre N° Spécial | Sommaire |
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| N° d'Exemplaire / inventaire | Cote | Localisation | Type de Support | Type de Prêt | Statut | Date de Restitution Prévue | Réservation |
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| 69779A87 | 621.381 SAA 1 C1 | BIB-Centrale / Ouvrages | Papier | interne | disponible | ||
| 65057A83 | 621.381 SAA 1 C1 | BIB-Centrale / Ouvrages | Papier | interne | disponible |
Saada, G. (1966). Microscopie électronique des lames minces cristallines . MASSON & CIE;