Tests d'ajustement du type du Chi-deux modifié pour un modèle à risques concurrents
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En durées de vie, on s'intéresse habituellement au temps de décès d'un individu ou au temps de panne d'un composant industriel. Dans certaines expérience des pannes d'origines différentes peuvent arriver pour un même composant industriel. C'est un problème auquel se sont intéressés plusieurs auteurs. En 2001, Bertholon a développé un modèle qui permet de mieux traiter des données de durées de vie dues à plusieurs risques concurrents, particulièrement le risque de panne accidentelle et les pannes dues au vieillissement. Ce modèle à risques concurrents, est composé d'un mélange de deux lois, l'une Exponentiel qui représente le risque accidentelle, et l'autre, la loi Weibull qui représente le risque dû au vieillissement
| N° Bulletin | Date / Année de parution | Titre N° Spécial | Sommaire |
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| Cote | Localisation | Type de Support | Type de Prêt | Statut | Date de Restitution Prévue | Réservation |
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| 510 CHO TH 4 | BIB-Centrale / Thèses | interne | disponible |